dokumendiregister.ee
OtsingAsutusedMCP
Otsing›Rahandusministeerium
Sissetulev kiriAvalik

Hankija täiendavad seisukohad

Rahandusministeerium · 17. jaanuar 2025
Viit
12.2-10/25-3/3-8
Registreeritud
17. jaanuar 2025
Dokumendi liik
Sissetulev kiri
Adressaat
Politsei- ja Piirivalveamet
Saabumis/saatmisviis
DVK/e-post
Funktsioon
12.2 RIIGIHANGETEALANE TEGEVUS
Sari
12.2-10 Riigihangete vaidlustusmenetluse toimikud
Toimik
12.2-10/25-3
Vastutaja
Angelika Timusk (Rahandusministeerium, Riigihangete vaidlustuskomisjon)

Failid

  • 📎20-1.3174-4 17.01.2025 Väljaminev kiri.asice423 KB

Sisu (failidest)

Tellija: Politsei- ja Piirivalveamet Aadress: Pärnu mnt 139 Tallinn Telefon: +372 53 410 285 e-post: maksim.antonov @politsei.ee Vastus e-kirjale 14 .01.2025 Vastuseks Teie poolt saadetud kirjale kinnitame alljärgnevat: Valgustehnilis ed mõõtmis ed ( aruanne nr. MP_20241201_L_PPA ) o n läbi viidud vastavalt standardis EVS-EN 13032-1:2004+A1:2012 esitatud mõõtemetoodikale. M õõtmistel järgitakse ümbruse keskmist temperatuuri T m kogu katsetamise kestel. Kõigil mõõtmistel järgitakse, et mõõtmised on korratavad ning saavutatud iga katsetatava allika mõõtmisel elektriline ja fotomeetriline stabiilsus. Mõõte protseduur näeb ette, et mõõtmistel kasutatakse üksnes stabiliseeritud (valgus)kiirgusallikaid. Mõõtmisteks kasutatakse mõõtevahendeid, mis on mõõdetavate parameetrite mõõtmisteks sobivad ning omavad vähimat mõju mõõtemääramatuste tekkeks. Mõõtelabor peab jälgima seadme mõõtmisel korratavust ning võtma arvesse mõõdetavale suurusele mõju avaldavaid tegureid. Korratud mõõtmistel , millega viidi mõõtmiste keskkonna ja mõõdetava seadme temperatuur kümne kraadi võrra madalamale ei muutu nud (muutus alla 1 nm) mõõdetav parameeter - tipplainepikkuse ( Peak Wavelength ) λ p . Mõõtmised kinnitasid, et Peak Wavelength ) λ p ei sõltu seadme ja ümbritseva keskkonna temperatuurist . Keskkonna- ja seadme oma töötemperatuur avalda s mõju IR-kiirgurite intensiivsusele. T ootja poolt kasutatud ja kirjeldatud sama lainepikkusega IR laserid (IRH ja ILH), lainepikkus 835 nm. Mõõtmised kinnita sid, et on tegemist erinevate lainepikkustega IR laserite ga . Lab ori juhataja : A. Oorn ............. .................. ( digiallkirjastatud , kuupäev) Mõõtesepetsialist : T. Varjas .................. .......... . .. ( digiallkirjastatud , kuupäev) Angelika Timusk Teie 14.01.2025 Riigihangete vaidlustuskomisjon [email protected] Meie 17.01.2025 nr 20-1.3/174-4 Vandeadvokaat Mart Parind MOONRAY OÜ esindaja e-post: [email protected] Baltic Fox OÜ e-post: [email protected] Hankija vastus vaidlustaja täiendavatele seisukohtadele 1. Menetluse senine käik Riigihangete vaidlustuskomisjon (edaspidi VAKO) edastas 03.01.2025 Politsei- ja Piirivalveametile (edaspidi hankija) MOONRAY OÜ (edaspidi vaidlustaja) vaidlustuse riigihanke „IR lasersihikute soetamine“ (viitenumber 278422) 30.12.2024 otsusele nr 20- 2.28/6-14, millega lükati mittevastavana tagasi MOONRAY OÜ pakkumus ning tunnistati edukaks Baltic Fox OÜ (edaspidi kolmas isik) pakkumus. Hankija esitas 08.01.2025 vaidlustusele vastuse. 09.01.2025 teavitas VAKO menetlusosalisi edasistest menetlustähtaegadest ning vaidluse lahendamisest kirjalikus menetluses. 13.01.2025 teatas VAKO vaidlustaja päringu peale, et vaidlustuses esitatud menetluslikud taotlused ekspertiisi läbiviimiseks või selle läbiviimise võimaldamiseks jäävad rahuldamata. Vaidlustaja esitas oma täiendavad seisukohad 14.01.2025. Käesolevaga vastab hankija vaidlustaja 14.01.2025 esitatud täiendavatele seisukohtadele. 2. Hankija täiendav seisukoht Hankija jääb 08.01.2025 vaidlustuse vastuses esitatud seisukohtade juurde ning soovib tulenevalt vaidlustaja 14.01.2025 vastusest tuua välja veel järgmist: 2.1. Vaidlustaja seisukohad ei kummuta fakti, et ruumi temperatuur valgustehnilise mõõtmise teostamise hetkel oli tehnilisele kirjeldusele vastav Vaidlustaja väitel on ilmne protokolli rikkumine, kui vaidlustaja näidistoodet testiti ruumis, mille temperatuur oli 25,2 ± 1,0 °C (ehk toatemperatuur võis olla ka 24,2 °C). Pärnu mnt 139 / 15060 Tallinn / [email protected] / www.politsei.ee Registrikood 70008747 Tehnilise kirjelduse (edaspidi TK) koostamisel lähtus hankija EN standardist, millest lähtuvad ka laborid valgustehniliste mõõtmiste teostamisel. Vaidlustus selle osas, et mõõtemääramatuse arvestamine temperatuurilistel mõõtmistel on protokolli rikkumine, on alusetu. Kui lähtuda vaidlustaja tõlgendusest, et TK punktis 31 toodud temperatuuri tuleb lugeda nii, et tegemist saab olla ainult sellise testkeskkonnaga, mille temperatuur on absoluutse täpsusega +25 kraadi, ei oleks võimalik hankijal isegi kõnealust laboritesti läbi viia, kuivõrd laborile etteantud mõõtemetoodika standardist tulenevalt on temperatuuri mõõtemääramatus paratamatu. Sisuliselt üritab vaidlustaja luua olukorda, kus hankijal ei ole objektiivselt võimalik seadmete vastavust mitte mingil juhul põhjapanevalt kontrollida. Nagu on ka hankija esialgses vastuses toodud – igasugusel mõõtmisel on paratamatu määramatus (sh ka temperatuuril). Isegi kui teha (või kui hankija oleks teinud) pakkuja näidisele samas (või teises) laboris kordusmõõtmine, ei oleks võimalik mõõtmist teostada ilma mõõtemääramatuseta. Käsitledes konkreetselt testkeskkonna temperatuuri (25,2 °C+/- 1 °C), tuleb seda tõlgendada järgmiselt: konkreetse keskkonna tõeline temperatuur jääb 24,2 °C-26,2 °C vahele. Kuivõrd absoluutselt täpset mõõtmist ei ole võimalik teostada, märgib hankija, et temperatuuri väärtust 25,2 °C peetakse antud kontekstis testkeskkonna tõenäoseimaks temperatuuriks. Mõõtemääramatus on kahe mistahes aktsepteeritava mõõteväärtuse võimaliku erinevuse kirjeldaja. Mõõtemääramatus kaasneb iga füüsikalise pidevsuuruse mõõtmisega. (I. Peil, K. Tarkpea. Sissejuhatus füüsikasse. Kulgliikumise kinemaatika. Peatükk 2.5.1: Mõõtmise täpsuspiirid ja mõõtemääramatus. https://opik.fyysika.ee/index.php/book/section/240#/section/240) Jääb ebaselgeks, mida peab vaidlustaja silmas „pakkuja kasuks või kahjuks mõistmisega“ (vaidlustaja täiendavate seisukohtade p 11). Hankija väide on olnud, et (i) testimiskeskkonna temperatuurile kohaldub paratamatu määramatus, ning lisaks sellele (ii) ei mõjuta ka eksperdi sõnul temperatuuri paratamatu mõõtmatus käesolevas vaidlustuses relevantsel määral mõõtmistulemust (seda kinnitavad faktiliselt ka testi käigus tehtud kordusmõõtmised). Eeltoodud tõsiasju ei saa tõlgendada või mõista ei pakkuja „kahjuks“ ega „kasuks“. Hankija ei ole kummalegi poole, ei vaidlustaja sõnutsi „plussi“ ega „miinuse“ suunas kaldunud. Sh kõnealuse mõõtmise käigus saavutatud tulemus vaidlustaja tootenäidise tipplainepikkusest (818 nm) on mõõtemääramatusega +/-1 nm. Ka „pakkuja kasuks“ tõlgendamisel jääb tipplainepikkuse näit TK punktis 29.3 nõutust madalamaks (845+/- 25). Vaidlustaja on oluliselt võimendanud hankija väiteid ekstreemsete näidetega, väljudes käesolevas vaidluses küsimuse all olevate asjaolude mõistlikest piiridest. Nagu on ka selgelt esitatud hankija eelnevas vastuses, temperatuur ei mõjuta tulemust teatud piirides. Taaskord, ekstreemset temperatuurimuudatust (ja selle mõju) hankija oma vastuses eelnevalt käsitlenud ei ole. Testimise jooksul teostati korratud mõõtmisi, millega viidi mõõtmiste keskkonna ja mõõdetava seadme temperatuur (keskkonnaga stabiliseeritult) ka kümne kraadi võrra madalamale, ning see ei muutunud mõõdetavat parameetrit - tipplainepikkus (Peak Wavelength) λ p (muutus alla 1 nm). Mõõtmised kinnitasid seega ka asjaolu, et Peak Wavelength) λ p ei sõltu antud kontekstis seadme ja ümbritseva keskkonna temperatuurist (vt Lisa 1). 2.2. Vaidlustaja seisukohad ei kummuta fakti, et TK p 31 tingimuse kohaselt tuleb arvestada vaid testkeskkonna temperatuuriga Tehnilisest kirjeldusest ei loe välja vaidlustaja väidetut, et temperatuuritingimus peaks hõlmama seadme temperatuuri (vaidlustaja täiendavate seisukohtade p 12 ja 13), tegu on 2 (4) vaidlustaja enda paljasõnalise hinnanguga. Hankijal tekib vaidlustaja seisukohast tingituna ka küsimus, mida tähendab vaidlustaja hinnangul „seadme temperatuur“ ning kas seda oleks võimalik üldse objektiivselt ja terviklikult mõõta. Seadme komponendid on juba oma toimimismehhanismi olemusest tulenevalt eri temperatuuridega (nt seadme IR-kiirguri keskpunkt ning seadme välikorpus). Seega jääb hankija jätkuvalt seisukohale, et TK-s on temperatuuritingimusena käsitletud vaid seadet ümbritsevat keskkonda. Nagu on toodud ka hankija eelnevas vastuses: seadme sisu (optilise seadme ehk laseri) temperatuuri mõõtmine ei ole tehnoloogiliselt võimalik ilma seadet lahti monteerimata. Keskkonna ja seadme töötemperatuur avaldab eelkõige mõju IR-kiirgurite intensiivsusele (võimsusele), mitte tipplainepikkusele. Seda on kinnitanud hankija eelnevas vastuses nii Tartu Ülikooli kui ka Tallinna Tehnikaülikooli (edaspidi „TTÜ“ või „labor“) eksperdid. IR-kiirgurite intensiivsus (võimsus) on vahetus seoses energiaallikaga. Vaidlustajal puudub alus eeldada, et enne seadme testimist on seda hoitud külmades/kuumades tingimustes. Sh tuleb arvestada, et mõõteprotokolli näol on tegemist standardprotokolliga, kus märgitakse protseduuriliselt olulisi andmeid. Hankija ei nõustu seisukohaga, mille kohaselt mõõteprotokolli seadme temperatuurilise seisukorra täpsustuse lisamata jätmine muudab mõõtmise ebapädevaks ja selle tulemusena saavutatud näidud ebausaldusväärseks. Kui jõuda seisukohale, et tingimus tuleb tõlgendada pakkuja kasuks (isegi kui selle tingimuse täitmine oleks eluliselt võimatu ning seda ei saa mõistlikult hankijast eeldada), peab hankija vajalikuks selgitada mõõtemetoodikat, mida on TTÜ mõõteprotokollis kasutatud. TTÜ mõõtemetoodika põhineb standardil EVS-EN 13032-1:2004+A1:2012 Lampide ja valgustite fotomeetriliste andmete mõõtmine ja esitamine. Osa 1: Mõõtmine ja failiformaat. Eelnimetatud standardi kohaselt toimub mõõtmine järgmiselt: „Mõõtmisi ei tohi alustada enne, kui valgusallikas on fotomeetriliselt stabiliseerunud. Valgustugevuse mõõtmised tuleb sooritada vähemalt üks kord minutis 15 min kestel. Ükski lugemipaar ei tohi erineda enam kui 1% võrra miinimumist. Igal juhul tuleb saavutata iga katsetatava valgusallika elektriline ja fotomeetriline stabiilsus; ka kasutatav liiteseadis peab olema termilises tasakaalus.“ Kasutatav mõõteprotseduur näeb seega ette, et mõõtmisel kasutatakse üksnes stabiliseeritud (valgus)kiirgusallikaid. Samuti kasutatakse mõõtevahendeid, mis on mõõdetavate parameetrite mõõtmiseks sobivad ning omavad vähimat mõju mõõtemääramatuse tekkeks (vt Lisa 1).Seega stabiliseeritakse seade testkeskkonnale vastavaks. Stabiliseerimine tähendab, et seade on keskkonnas piisavalt pikaajaliselt, et teatud intervalliga testimise tagant annab seade täpselt samasuguse testitulemuse nagu varemgi. Vastasel juhul ei ole võimalik teostada ka kordusmõõtmisi ega saavutada usaldusväärset testitulemust. Hankija ei ole käesolevas vaidlustusmenetluses kordagi väitnud, et ei vastuta hankes tehtavate otsuste õigsuse eest (nagu on vaidlustaja viidanud oma täiendavate seisukohtade punktis 7). Hankija on nii vaidlusaluses otsuses kui ka vastuses vaidlustusele kinnitanud, et näidise valgustehnilise mõõtmise teostamise ajendiks TTÜ-s on olnud hankija enda visuaalne kontroll. Kuivõrd hankijal endal ei ole akrediteeritud laborit valgustehnilise mõõtmise teostamiseks, ei ole hankijal muudmoodi võimalik näidise tipplainepikkust kontrollida, kui lastes mõõtmise teostada teisel asutusel. Seega tuleb vaidlustus jätta rahuldamata, kuna vaidlustaja pakkumust ei ole võimalik vastavaks tunnistada ning vaidlusalune otsus on õiguspärane. Lugupidamisega (allkirjastatud digitaalselt) 3 (4) Lysann Viitamees arendusosakond, hanke- ja lepingutalitus, lepingute grupp jurist Lisa: Lisa 1 - TTÜ selgitused hankija täiendavatele küsimustele Lysann Viitamees, 6123195, [email protected] 4 (4)
Allikas: Rahandusministeerium dokumendiregister →
dokumendiregister.eeAsutusedEesti avalike dokumendiregistrite otsing · nimistu.ee andmetel